Новости

Подписан контракт по МЭМС с Fraunhofer ENAS

14 декабря 2016г. подписан контракт по технологиям инерциальных датчиков между предприятием «Совтест АТЕ» и институтом электронных наносистем Fraunhofer ENAS (Германия)*. Подписание контракта стало возможным благодаря успешной международной кооперации, организованной «Русской Ассоциацией МЭМС» (РАМЭМС) с институтом Fraunhofer ENAS — мировым лидером в сфере разработки, проектирования, изготовления и тестирования микро- и наноэлектромеханических систем. В рамках контракта стороны…
Подробнее

Новое поколение российских датчиков и систем

28 октября 2016 года в ГК «Измайлово» состоялся технический семинар на тему: «Новое поколение российских датчиков и систем». Организаторами семинара выступили ООО «РАМЭМС», ООО «Совтест АТЕ» и Курское региональное отделение ООО «Деловая Россия». Мероприятие прошло при активной поддержке АНО «Агентство по технологическому развитию» и института Fraunhofer ENAS (Германия). Идея по проведению подобного семинара возникла в…
Подробнее

РАМЭМС на съезде “Деловой России”

РАМЭМС приняла участие в юбилейном съезде общероссийской общественной организации «Деловая Россия», который состоялся в г. Москве 18 октября 2016 г. Съезд был приурочен к 15-летнему юбилею организации и в знак особого уважения к российскому бизнесу, на пленарном заседании мероприятия выступил Президент России Владимир Путин. Он поздравил «Деловую Россию» с праздником и пожелал успехов ей и отечественным предпринимателям.…
Подробнее

29-30 июня в г. Курске состоялся 6-ой Международный МЭМС-Форум 2016

6-ая ежегодная конференция и выставка по разработке, производству, тестированию, стандартизации и применению микроэлектромеханических устройств «МЭМС-Форум 2016: Индустрия 4.0» была проведена на базе Курского государственного университета, ведущей научно-исследовательской организации региона. Организатором Форума традиционно выступила «Русская Ассоциация МЭМС» при поддержке генерального партнера – компании «Совтест АТЕ». В настоящий момент МЭМС-Форум является ведущим мероприятием по тематике микросистем в…
Подробнее